一、穹彻智能:亮相2026WAIC,卢策吾教授荣获ACM China杰出学者
2026 世界人工智能大会(WAIC)即将开幕,穹彻智能(Noematrix)将携具身智能全栈产品与技术成果亮相,展位号H3-B101。
作为国内具身智能赛道的核心企业,穹彻智能将在本届WAIC上集中展示其自研的Noematrix Brain具身大脑、多系列机器人本体以及真实场景落地案例。从底层大模型到硬件本体,再到药房、酒店、工业产线等商业化场景,观众可一站式了解穹彻智能“大脑+本体联合设计”的全栈技术路线与产业落地进展。
近日,在ACM图灵大会 2026(ACM Turing Celebration Conference China 2026)期间,穹彻智能(Noematrix)联合创始人兼 CEO、上海交通大学人工智能学院副院长卢策吾教授荣获 ACM China 杰出学者(Outstanding Chinese Scholar)荣誉,以表彰其在具身智能领域作出的突出贡献。该奖项旨在表彰在计算机科学及相关领域作出杰出贡献的华人学者,每年遴选人数不超过 10 位,由图灵奖得主 Yannis Ioannidis 教授与梅宏院士共同颁奖。
这一荣誉是对卢策吾教授长期深耕具身智能领域的学术认可。多年来,他围绕机器人智能、具身智能基础模型方向开展系统性研究,并持续推动科研成果向产业场景转化。自创立穹彻智能以来,公司始终走产学研协同发展路线:2025 年与上海交大人工智能学院成立联合实验室;2026 年6月,又先后宣布与上海创智学院共建联合实验室,并获得上海交大AI未来基金、上海创智学院全资子公司的战略投资。
作为国内具身智能赛道的核心玩家,穹彻智能聚焦“以力为中心”的技术路线,自研 Noematrix Brain具身大脑已迭代至 2.0 版本,形成从底层模型、真实场景数据采集、硬件开发到场景落地反哺模型优化的全栈闭环。目前,公司自研的机器人已在药房、酒店、工业产线等场景实现批量部署。
二、盛吉盛半导体:PECVD-ZARVIS 设备量产晶圆突破1000万片
盛吉盛半导体传来里程碑捷报——公司核心产12英寸ZARVIS-PECVD设备累计量产处理晶圆正式突破1000万片。
成立于2018年的盛吉盛,是国家专精特新“小巨人”、国家高新技术企业,也是国内唯一由头部晶圆厂深度参股、具备完整产线验证通道的薄膜沉积设备集成商。公司聚焦晶圆制造三大核心工艺之一薄膜沉积(CVD/PECVD/RTP),解决国内12英寸先进制程薄膜设备长期被海外应用材料、泛林半导体垄断的卡脖子问题。
目前已成功开发多款12英寸薄膜沉积设备(PECVD、HDPCVD、IDP氮化系统)及快速热处理(RTP)设备,批量交付多家行业龙头客户的量产产线,并同步参与客户下一代先进工艺研发。盛吉盛半导体拥有四大自主可控薄膜设备核心技术,涵盖低温氮化硅均匀沉积工艺、高密度等离子腔体旋转磁体调控、晶圆低污染承载与传输精密控制、多腔体集群智能控制系统等。后续公司将依托本轮融资持续加大研发投入,深度匹配国内晶圆厂扩产需求,助力国产半导体设备产业链升级。
截至目前,盛吉盛员工规模超650人,研发人员占比超35%;累计申请专利600余件,其中发明专利400余件,获授权发明专利超 100件。
三、武汉微环控:非光刻机业务占比首超 50%,业务模式验证完成
武汉微环控技术有限公司迎来业务结构的重要拐点——非光刻机业务规模首次突破总业务量的50%,标志着公司多元化布局取得关键成效,这一跨越,不仅标志着公司多元化布局取得关键性成效,更向市场展示了其抗周期波动能力与全面成长潜力。
得益于四大业务线的同步放量,微环控今年累计订单额已超越去年全年总和,实现同比 100%以上增长。目前公司在光刻机、量检测设备、光学系统、高科技设施四大领域齐头并进:在巩固光刻机微环境控制技术优势的同时,量检测与光学等新业务快速起量,有效拓宽了成长天花板,也验证了微环控技术平台的高可复制性。
作为半导体核心设备的关键配套供应商,微环控专注高精度微环境控制技术,温度控制精度可达±2mK,气压控制精度±0.5Pa。凭借高品质量产交付能力与严苛的品质把控,公司已赢得国内多家头部晶圆厂与设备厂商的长期信赖。
四、芯率智能:公司技术总监付永杰分享 AI 赋能芯片良率提升的落地实践
近日,“算力聚能,AI破局——AI赋能先进制造企业智能化新实践”主题活动在苏州人工智能产业园举办。芯率智能作为国内半导体良率提升领域的头部企业受邀参会,公司技术总监付永杰作《AI 赋能芯片设计与良率提升:挑战与突破并存》的主题演讲。
演讲中,付永杰系统拆解了AI落地半导体产业的三道核心障碍——代码验证难、算力与数据安全成本高、测试环境复杂度激增,并分享了芯率智能在设计端与制造端的成熟落地方案:
设计端:形式验证加速、可测性设计(DFT)优化,用AI提升验证效率、辅助新手工程师快速定位风险,大幅降低验证和调试时间成本。说白了,让新手也能拿到老手级别的排查能力。
制造端:数据清洗去噪→根因分析与模式识别→图形化诊断与物理比对→分类与正向优化的“四步法”良率诊断体系,从数据源头到设计反馈形成完整闭环,有效缩短良率爬坡周期。
延伸价值:静态漏电筛选、动态电压优化,从良率提升延伸至产品性能增值。
深耕半导体产业近20年,芯率智能始终服务国内头部晶圆厂,其AI ADC(自动晶圆缺陷分类)产品已在头部FAB厂完成部署,将高级制程控制(APC)做了升级,与缺陷管理系统(DMS)、良率管理系统(YMS)深度打通,实现缺陷下降与良率提升的闭环。